№328 Методы измерения параметров полупроводников и диэлектриков. Разд.: Электрофизические и фотоэлектрические методы измерения параметров полупроводников: лаб. практикум
Журавлев, В. Б., Ладыгин, Е. А., Мартынов, В. Н., Спицына, Л. Г.Tahun:
1982
Penerbit:
МИСИС
Bahasa:
russian
File:
PDF, 55.59 MB
IPFS:
,
russian, 1982